技术编号:31726864
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及探针台技术领域,尤其涉及一种电子芯片测试探针台旋转升降机构。背景技术.探针台是半导体表征参数测试测量非常常用的设备,广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发。.探针台在用于对电子芯片测试过程中,需要满足其具体测试过程中的升降与旋转操作,其起到该功能的旋转升降机构是装置中的常见机构,现有技术中的旋转与升降机构常由两部分组成,针对不同的功能需要将探针台拆卸下来并安装在不同的机构上,对于电子芯片的持续测试便利性非常低,在实际的运用过程中实用性非常低。实用新型内容.本实用新型...
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