技术编号：31792152
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及光学显微镜照度均匀度的检测方法，特别涉及一种基于多尺度核的宽场显微镜照度均匀度的检测方法。背景技术.照度均匀度是一种图像画质的评价指标，它反映了一幅图像的光照均匀程度。在显微镜应用中，照度均匀度为评价图像的光照均匀度提供了一种客观的评价指标，该指标涉及图像的最小灰度值、最大灰度值和平均灰度值。通常的照度均匀度自动检测方法未考虑画面中的干扰物对计算的影响，特别是宽场显微镜中，因为清洁工艺无法完全去除光路中的污渍及样本玻片上的污渍，由此在检测照度均匀度时通常会产生计算误差。.显微镜...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。