技术编号:32394419
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及芯片分选检测设备技术领域,具体的,涉及一种芯片二重式分选检测装置。背景技术.当网络、电子通讯及各种电子消费品占据人们生活的各个角落时,奠定这一切基础的半导体产业毋庸置疑地成为国家科技发展中的重中之重。这些微电子行业大量使用的半导体器件制造完成后,需要对其进行检测、分选,将芯片中存在质量问题的那部分剔除出去从而保证了芯片应用到各种电子设备上的时候能够保证其使用寿命。.现有技术中对芯片进行分选检测时,往往采用分选再检测或者检测再分选的设备,检测与分选独立开,同时分选依据的标准多为外...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。