技术编号:32517976
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及但不限于成像检测技术领域,尤其涉及一种内部结构成像方法、装置、系统及存储介质。背景技术.目前,测量物体的内部结构的方法主要有x射线计算机断层扫描(computed tomography,ct)、超声断层扫描和光学ct;x射线ct分辨率高,已广泛应用于生物医学成像和工业检查;超声断层扫描比x射线ct对人体的伤害小,没有电离辐射,超声断层扫描是基于扫描物体外部获得的投影数据信息来重建物体内部结构的图像;光学ct采用近红外辐射成像,具有无损伤、连续实时、便携的优点;但是,x射线ct、超...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。