技术编号:32678945
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及一种芯片测试系统领域,更具体地说,涉及一种脉冲反偏测试系统。背景技术.随着科技日新月异的发展,我们的生活越来越离不开半导体集成电路,而集成电路的核心就是半导体芯片,为了使芯片能够更加稳定的运行,都要对半导体芯片参数进行分析,以往都是对半导体芯片在恒压、高温条件下进行;而为了使芯片能够适应更复杂电路下正常运行,现在越来越多的半导体芯片要求在脉冲电压、高温下也能够正常工作。实用新型内容.本实用新型为了克服现有技术中存在的传统的芯片老化测试系统没有设置芯片的脉冲测试系统的问题,现...
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