技术编号：3279259
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于X射线探测，尤其是涉及ー种。背景技术X射线探测器在測量X射线能量和激光产生的等离子体能量时是非常有用的エ具。如量热法X射线探测器，透视ニ极管，基于硅的探測器等现已被使用，以确定总的X射线通量或能量密度，但它们有一些缺点限制了它们的应用。例如，量热法X射线探测器没有提供时间信息；透视ニ极管由于它可变的光谱灵敏度，使光谱展宽变得困难；基于硅的探测器受无感层效应和高灵敏度要求的限制。因此，需要寻求其他更好的方法。阻抗式薄膜量热计作为ー种准确测量X射线能...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。