技术编号：33197554
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及填充材料表面的测量。特别地，本发明涉及用于物位和拓扑检测的物位雷达、用于测量容器的物位和填充材料表面的拓扑的方法、程序元件以及计算机可读介质。背景技术.为了检测填充材料表面的拓扑，可以使用测量信号扫描填充材料表面。为此目的，机械地旋转测量装置或其天线，或者执行电子波束控制。也可以将两种方法混合。为进行电子波束控制，在雷达测量装置中使用辐射元件阵列。在这种情况下，该阵列也被称为阵列天线。.然后，可以根据检测的拓扑计算填充材料的物位和体积。.用于电子波束控制的硬件费用不可忽视；信...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。