技术编号:33502725
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及一种未老化电容检测电路。背景技术.在电容制造过程中,难免出现铝电容产品因排架线路或接触弹片接触不好,造成铝电解电容器老化效果不好,氧化膜没有充分修复,表现为漏电流大,在充电测试过程中会引起测试电压波动造成误判打入良品箱中,特别是高压产品在测试分选时还会出现爆炸现象,基于以上原因,迫切需要在测试环节中,增加一环,通过采取合适的方法和手段,对电容器未老化产品进行测试,在充电测试前将未老化产品找出来,彻底杜绝漏电不良品流入良品中,以致流至客户端的可能。.而现有的电容检测电路仅对电...
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