技术编号:3350928
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关一种集成电路(IC)测试插座的测试接口的清洁机构及清洁方法,尤指一种具自动清洁功能的ic测试插座测试接口的清洁机构及 清洁方法。背景技术半导体制造的最后一个制程为测试,测试制程可分为初步测试与最终 测试,其主要目的除了发现半导体组件的瑕疵之外,也将依规格划分半导 体组件的等级。在测试半导体组件例如芯片的过程中,测试接口,例如探针,会与半导体组件上的接脚,例如焊垫(pad)或锡球(solder ball), 进行电性接触,以测试该半导体组件的相关...
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