技术编号:33538694
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及电路控制领域,特别是涉及一种电容控制电路及装置。背景技术.目前,电容高温负荷加速试验是激发或检测电容的内部缺陷一种有效实验,在实验过程中,有缺陷的电容都呈现出短路失效。当电容短路后,现有测试装置不能及时断开电源进行保护,导致被测电容严重烧毁,详见图,导致无法分析被烧坏的待测电容的缺陷与原因,降低了实验的价值或意义,因此,亟需一种电容控制电路能够实现为微秒级短路保护。实用新型内容.鉴于以上所述现有技术的缺点,本申请的目的在于提供一种电容控制电路及装置,用于解决现有电容控制电路无...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。