技术编号:33580217
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及外观检测技术领域,特别的涉及一种检查集成电路芯片外观的检测装置。背景技术.外观检测装置是采用ccd照相机将集成电路芯片转换成图像信号进行检测,但传统外观检测装置在对集成电路芯片进行检测时,集成电路芯片表面在转运过程中容易粘附有灰尘,灰尘会影响对其外观的检测。.因此,提出一种检查集成电路芯片外观的检测装置以解决上述问题。实用新型内容.本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的,一种检查集成电路芯片外观的检测装置,包括:工作台,所述工作台的顶部固定连接有连接壳,所述工作台的顶部...
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