技术编号：33797072
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及层厚测量设备技术领域，具体为一种便携式表面镀层及基体渗层厚度测量装置及其测量方法。背景技术.表面镀层及基体渗层厚度是镀层材料的重要特性之一，目前测量表面镀层及基体渗层厚度的方法有很多种，如电学测量法、机械法和光学测量法。这些检测方式有的只能测量金属的导电膜，有的需要知道表面镀层及基体渗层的折射指数，有的只能在实验室中测量小试块的表面镀层及基体渗层厚度的测量装置，这就需要对材料本身进行破坏或随炉放置小试块，局限性较大，这使得研发一种适用范围广、精度高并且可以应用实际生产检测的便携式...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。