技术编号:33806989
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种颗粒物去除装置、外延设备及其工作方法。背景技术.晶圆的外延生长工艺是半导体芯片制造过程中的一个重要工艺,该工艺是指在一定条件下,在经抛光的晶圆上再生长一层具有相同晶体取向的单晶硅薄膜,即外延层,从而获得外延晶圆。外延晶圆因为其良好的晶体结构、更低的缺陷密度和优秀的导电性能,广泛应用于高性能半导体器件的生产制造。晶圆的外延生长主要包括真空外延沉积、气相外延沉积以及液相外延沉积等生长方法,其中以气相外延沉积的应用最为广泛。.颗粒是影响晶圆品质的主要因...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。