技术编号：33930644
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及减震领域，尤其是在显微镜中原位变形微纳样品的减震设备。背景技术.纳米材料具有大块材料所没有的独特物理化学特性，因此对其在外力作用下力学性能的研究获得广泛的关注。由于微纳材料的尺寸非常小，使得显微镜成为研究纳米材料的重要工具。由于显微镜中用于放置样品的空间很小，因此在有限空间内固定纳米材料以及安装力学性能测试器件，并对纳米材料的原子尺度变形进行表征是非常困难的，极其容易受震颤力出现变故，所以需要用到一种显微镜中原位变形微纳样品的减震设备。.不过现有的微纳样品减震设备还有部分缺陷：...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。