技术编号：34022299
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及一种用于高压加速老化测试的密封压力容器，适用于电子器件老化测试技术领域。背景技术.随着g通信、半导体芯片、航空航天技术等高精尖技术产业的蓬勃发展，被广泛应用于此类行业的精密电子元器件的重要性也日益显现，为了能够把控各类电子器件产品的品质，产品出厂前通常要对其进行老化测试。目前常规的老化测试的手段通常是采用高加速老化测试装置进行，该装置的原理是通过将水蒸气压力增加到一定程度，模拟出高压、高温、高湿的测试环境，提高压力舱内的环境应力，加速产品老化，来评估电子元器件的可靠性，而由于该...
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