技术编号:34115982
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及非线性响应探测器件标校领域,具体涉及一种盖革雪崩焦平面阵列的辐射亮度校准方法。背景技术.apd阵列(盖革雪崩焦平面阵列器件)具有单光子探测的能力,可以在低照度下工作,可靠性高,可以抑制强光干扰,主要应用于激光雷达领域,以其高灵敏度、高距离分辨率、高成像效率成为国内外研究热点。可利用夜间自然弱光或低照度下的反射辐射,通过光电、电光转换及增强措施,实现微弱的可见光或短波红外光增强成像。在目标红外辐射特性测量中,目标经光学系统成像至apd探测器,像表现为多个像元的集合,而光子经光学系统...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。