技术编号：34120566
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请属于集成电路技术领域，具体涉及一种延时测量装置、延时测量系统及延时测量方法。背景技术.芯片在生产过程中，由于产品批次、工艺漂移等因素，会导致实际芯片中的时序与设计时的时序模型产生偏差，这些偏差会导致芯片性能与预期的不一致、甚至会造成功能错误。而这些偏差由于在芯片内部，在芯片制备好以后，几乎是不可以测量的。发明内容.鉴于此，本申请的目的在于提供一种延时测量装置、延时测量系统及延时测量方法，以快速准确测量输入时钟信号从待测芯片的输入端经内部指定路径到达输出端的目标延时量。.本申请的实...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。