技术编号：34136704
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种电极制品的缺陷检测方法及系统。背景技术.传统的制品缺陷的检测方法只能简单的判断制品合格与不合格，以及缺陷的大致部位，且无法自定制品不合格的包含范围。不同的产品对缺陷的容忍度不同，有些缺陷并不会影响产品的性能或出货，因此客户需要在对产品进行缺陷检测时需要根据具体情况选择性的对产品特定的缺陷特征进行检测。同时，传统的检测方法，对于光源参数的调整一般采用的是手动设定，但缺陷检测对环境的变化过于敏感，手动设定无法检测环境、个体特征以及设备差异，很难调整至最优...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。