技术编号：34215902
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及封装二极管高低温测试技术领域，尤其涉及一种针对陶瓷封装二极管高低温测试方法。背景技术.元器件在工作状态下有可能遭遇低温环境，如使用在冰箱冰柜冷库空调的调节系统中，因此实验室需要对样品的低温工作环境进行模拟，为了尽量贴近现实环境的测试情况，应该对测试方法进行创新。.传统二极管高低温测试方法都将样品从温箱中取出，并且在限定时间内进行测试，但是因为限定时间内升降温速率非常快，如果时低温时期测试还会因为高低温差产生水汽影响测试和样品本身，所以需要一种不需要离开当前环境就可以进行测试的试...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。