技术编号:3428516
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种材料去除率控制系统,尤其是涉及一种基于快速抛光技术的材料去除率 控制系统。背景技术随着抛光技术的不断发展和数控机床应用的不断扩大,如何提高工件抛光加工效率,如 何控制其材料去除率,成为抛光技术应用上的关键问题。目前,由于很多超精密加工技术没有公开,抛光的三大要素抛光液、抛光垫和抛光机 的发展严重制约了超精密加工水平的提高。近年来,我国科研工作者已开始机械化学抛光技 术的研究(参见文献1、王胜利,袁育杰,刘玉岭,铜CMP中工艺参数对抛光速率的影...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。