技术编号:34579188
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及测试台、测试头技术领域,尤其是一种测试台、测试头结构组件。背景技术.在功率半导体器件研发过程中或器件出厂测试试验中,通常会做一些测试试验。在试验时需要把器件与设备连接到一起,通常一台设备需要测试多种器件,并且还要匹配其它设备来完成量产型器件测试。.传统的测试头和测试台连接时,会出现以下问题:.、连接效果差,容易出现松动的情况,影响测试的精度;.、而若要保证连接效果好,则连接结构复杂,会出现测试头更换不便的问题;.、测试台设计过厚,导致寄生电感增加,在测试设备中,...
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