技术编号:35038727
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。sma封装器件漏电流测试设备技术领域.本实用新型涉及二极管检测技术领域,特别是涉及一种sma封装器件漏电流测试设备。背景技术.目前,sma封装二极管没有专用的性能测试装置,无法对sma封装二极管进行性能测试,现有技术主要通过测试人员采用测试表笔对sma封装二极管进行测试,通过测试人员通过手动测试的方式,存在测试效率低、测试人员易疲劳以及测试接触较小不易测试,并且长期注视测试容易对测试人员眼睛造成伤害、导致颈椎病,以及静电对器件造成损坏的问题。实用新型内容.鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用...
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