技术编号:35127630
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于微波、毫米波材料电磁参数测试技术领域,具体涉及天线罩介电性能分布测试系统及校准方法。背景技术.天线罩是由透波介质材料制作并用于保护内部天线的电磁功能结构件,通常用于减小天线雷达受到外界的影响。天线罩不仅对结构外形有着较高的要求,而且要求有良好的电磁波穿透性能。天线罩介电性能的准确测试是评估天线罩透波率、插入相位、电厚度等性能的基础,并且对于天线罩整罩性能优化设计具有重要作用。.目前天线罩介电性能的测试方法主要有透射法和反射法两种。透射式测试方法将被测天线罩置于测量收发天线之间,...
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