技术编号:35266788
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及光学偏振态测量领域,尤其是涉及一种基于光学偏振态的参数测量方法。背景技术.目前对于光偏振态的算法主要基于各自的测量方法,一般来说,通常是测量若干个特征值获得参数之后,代入各自特定的计算公式,直接获得偏振态的相关参数信息。如果在测量时由于光学元件出现问题或者测量者搞错光学元件参数、光轴,所导致的测量误差很难在第一时间被发现,这样不可避免地会使所计算的偏振态参数出现偏差,有时这种偏差很难被察觉到,也很难被排除。发明内容.本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供的一种测量...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。