技术编号：35966064
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及一种带通滤光片及其制备、检测方法，尤其涉及一种中红外波段带通滤光片及其制备、检测方法。背景技术.先进光学系统中，常常需要在光学元器件表面镀制各种功能的薄膜，用来改善未镀膜光学元件光能损失大、工作波段透射率低等问题，以提高光学系统的成像质量、提升光学元件的探测精度。中波红外焦平面探测器则能够获取比长波红外焦平面探测器更加丰富的细节。工作在中波红外波段的带通滤光膜在这一类光学器件中有着重要作用，例如红外制导导弹、工业设备监控技术和红外夜视仪等，带通滤光膜实际上是探测器中可以起到分光作...
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