技术编号：36079623
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。基于干涉z扫描的热光效应测试装置及光学系统技术领域.本实用新型涉及光电探测技术领域，尤其是指一种基于干涉z扫描的热光效应测试装置及光学系统。背景技术.三阶非线性光学效应在全光数据处理和传感器应用领域起着关键作用，光致折射率变化是全光器件最基本组成部分之一，也是三阶非线性光学研究的主要领域。热光效应是由光学吸收而引起的折射率变化，响应时间较慢，多用于对时间相应敏感度较低的传感器上。克尔效应的响应时间较快，但是幅值小并且包含多个复杂的过程，使得对此效应的正确研究复杂化。.材料折射率变化与入射光...
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