技术编号：36081260
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及芯片老化测试技术领域，特别涉及一种电流采样电路。背景技术.在芯片老化测试中，需要对每一芯片测试工位提供多路不同大小的电源以检测芯片的性能，亦需要采集芯片在不同电源下的工作电流。现有技术中，每一路电流采集即需要一个采集芯片，则在具有n工位、每个工位提供m种电源情况下，则需要n*m个采集芯片，显然对于多工位及多电源的信号机而言成本是较高、电路结构亦是繁杂的。.有鉴于此，本司提供一种提高采集芯片利用率的多路电流采样电路，以优化多电流采集电路。实用新型内容.本实用新型的目的是提供...
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