技术编号:36168309
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及气体浓度测量领域,特别是涉及一种气体浓度测量装置及气体浓度测量方法。背景技术.常见的测量气体浓度的方法分为接触式或非接触式。接触式的包括半导体型,催化燃烧型,电化学型,特点是需要气体与传感器接触发生反应,从而测量气体浓度。非接触式主要是基于激光测量技术的,包括ndir(非色散红外),tdlas(调谐半导体吸收光谱),crd(光腔衰减)等方法。.为了实现特定目的,气体常常会被填充入中空透明结构中,例如,在化学反应或半导体制程中,为了使得化学反应或半导体制程不受其它气体的影响,需要...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。