技术编号:36419226
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。解析系统、解析方法和解析程序技术领域.本发明涉及解析系统、解析方法和解析程序。背景技术.专利文献和中记载了“制作表示x射线分析数据与所述累计疲劳度之间的关系的对应表的步骤”(权利要求)。.在专利文献中记载了“针对形成了诊断对象被膜的试验体以规定条件进行劣化促进试验的步骤”(权利要求)。.在专利文献中记载在了“通过与劣化/寿命诊断曲线对照并进行计算,来估计所述电子装置的劣化度和剩余寿命”(权利要求)。.现有技术文献.专利文献.专利文献:日本特许第号公报...
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