技术编号：36655366
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及精密测量领域，尤其涉及一种单光束真空光阱的波分复用捕获及极弱力计量装置和方法。背景技术、极弱力的测量促进了磁共振力显微镜、物质波干涉测量、近距离引力物理测试、惯性传感等领域的应用，且我国最新的《计量发展规划(-年)》中提出了皮牛级微小力值计量与质量单位的量子化变革复现等技术需求。光学悬浮机械系统在高真空中的良好环境解耦可以在室温下实现极弱力测量，在真空光镊技术中，利用光和微纳粒子之间的动量交换，使微纳粒子能够稳定地被限制和操纵在光学陷阱中。根据微纳粒子在光阱中的受力可...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。