技术编号：36735928
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及微聚焦x射线，更具体地涉及一种用于微聚焦x射线散射实验的样品台。背景技术、x射线小角散射(saxs)是一种探测样品内部纳米尺度结构信息的常用表征手段，但常规saxs测量通常只能用于研究均匀样品，对于非均匀多组分样品，在实验前则往往需要对样品进行破坏性切片处理。基于微聚焦x射线光束的saxs-ct技术可实现大尺寸非均匀样品内部纳米结构的三维无损表征，但对于不满足旋转对称性的各向异性散射，常规的saxs-ct实验方法只能重建得到沿旋转轴方向的散射信息分辨，无法获得完全的散射信息。因此，需...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。