技术编号：36756503
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术属于测量平台，更具体地说，特别涉及一种涂层测厚仪的测量平台。背景技术、涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度，而其在进行使用时，为了确保检测的精度，一般会用到相应的平台（即承载物）作为基座进行使用以对需要测量的工件进行承载。、测量平台在使用时存在着：、、测量平台在进行使用时，由于其多为仅能对工件进行承载，但其缺乏对测厚仪的有效限位结构，使得测厚仪在进行手持使用时很容易因出现倾斜而导致测量结果出现偏差，存在着局限性。技术实现思路、为了解决上述技术问题，本实用新型提供一...
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