技术编号：36844329
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本公开涉及终端，尤其涉及一种点检治具和测试产线。背景技术、目前，对应一些电路板产品或者电子产品，在出厂之前通常需要通过探针来进行测试，而在通过探针测试的过程中，若探针本身出现弯曲或者偏移，在探针与产品电路导通的过程中，容易对产品电路造成损伤。技术实现思路、本公开提供一种点检治具和测试产线，以解决相关技术中的不足。、根据本公开实施例的第一方面，提供一种点检治具，包括：、载具；、多个传感器，每一所述传感器与所述载具连接，所述传感器用于在所述点检治具处于点检状态时，获取待测探针作用于所述传感...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。