技术编号:36879266
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及热电器件测试,具体为一种用于测量大尺寸热电芯片转化性能的实验仪器。背景技术、热电器件可以利用塞贝克效应将热能直接转换成电能,反过来也可以利用帕尔贴效应将电能转换成热能,因此,热电器件可以用于发电和制冷。、为了评价热电器件的发电性能,通常是在其两端建立温差,测量不同负载对应热电器件的输出电流、电压及热流之间的关系,进一步分析得到热电器件在该温差下的最大输出功率及最大转换效率。、为保证热流测量精度,大部分仪器测量样品尺寸有限。例如,pem系列设备最大只能测试mm*mm的模块,...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。