技术编号：36985159
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及功率半导体设备，具体为一种功率半导体器件壳温多点测量装置。背景技术、一般将控制电流达到a或者工作电压达到v的半导体器件称之为功率半导体器件，主要的功率半导体器件包括igbt、二极管、mosfet等。在功率半导体器件运行过程中会产生热量，而功率半导体芯片是一种极为精密的器件，温度会影响芯片的运行，严重时甚至会直接使芯片损坏，但是由于功率半导体器件与芯片为封装结构，所以只能靠测量壳温来推算内部芯片温度，所以在这里提出一种功率半导体器件壳温多点测量装置。、现有技术存在以下问...
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