技术编号：37001712
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片外观检测，尤其涉及一种芯片成像检测装置。背景技术、芯片外观检测应用于高精度和高速场合，人工检测达不到检测精度和效率上的要求，通常采用光学自动检测设备(aoi)，市面上对于光学自动检测设备提出了高精度和高速的要求。、传统的视觉检测装置中的单个远心检测镜头只能拍摄一个待检测面，若对芯片的五个面同时进行检测，需要设置多个远心检测镜头进行拍摄，时间成本高、占用空间大。若芯片检测光路中仅使用单个远心镜头，检测芯片顶部的光线与检测芯片个侧边的光线存在较大的光程差，由于采用的远心镜头景深有...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。