技术编号：37019282
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及图像处理，具体涉及基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法。背景技术、半导体载带主要应用于电子元器件贴装工业。它配合盖带使用，将电阻，电容，晶体管和二极管等电子元器件承载收纳在载带的口袋中，并通过在载带上方封合盖带形成闭合式的包装，用于保护电子元器件在运输途中不受污染和损坏。在半导体生产过程中，可能会出现一些主要的缺陷，其中包括结构缺陷、工艺缺陷、界面缺陷等。对于结构缺陷，是指半导体器件中物理结构的缺陷或不完整性。这可能包括晶体结构的缺陷、晶格畸变、晶体界面的不完整或污染等。结构...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。