技术编号：37106536
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及半导体芯片，具体为一种高速adc/dac的测试系统及方法。背景技术、随着半导体芯片产业的快速发展，芯片的密度越来越小，功能也愈发的强大，诸如数模转换芯片dac和模数转换芯片adc。现如今，高速高性能的adc/dac芯片在各个领域广泛应用，对其可靠性老炼测试和寿命评估的过程中，由于要提供高速时钟和相关激励，在保证高速信号完整性的同时，能为其提供高温温度应力，且能保证外围辅助芯片处于低温工作环境，目前来说仍是一项巨大的挑战。、典型的adc/dac测试解决方案主要通过评估板外接各种测试仪...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。