技术编号:37195086
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及芯片测试,尤其涉及一种带短路测试的芯片老化测试系统及测试方法。背景技术、部分芯片在封装完毕后,可能会存在一些潜在缺陷,这些缺陷会导致芯片性能不稳定或功能缺失,因此,芯片在正式使用前需要进行老化测试。老化测试通常根据测试环境分为常温老化和高温老化,同时根据测试形式又分为脉冲老化和持续工作老化。老化测试通常指在一定时间内,将芯片置于一定的温度下,再施加特定的电压,加速芯片老化,使芯片可靠性提前度过早期失效期,直接到达偶然失效期(故障偶发期),以保证芯片工作性能的稳定性和可靠性。、在芯片...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。