技术编号：37224665
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于红外成像，具体涉及一种红外焦平面探测器测试系统的设计方法及系统应用，以实现对半成品电路片和成品探测器的性能评估。背景技术、红外焦平面探测器是热成像系统最重要的核心部件。探测器电路(机芯)的设计是一个新的热成像系统的关键部分。红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须精确地了解红外焦平面探测器参数方面的知识，这是因为红外焦平面探测器的参数决定了热像仪系统的性能极限。因此测量红外焦平面探测器性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。、通常由探测器生产厂家提供的技术资料给出的信息对于电...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。