技术编号:37254002
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本技术涉及材料辐射性能测试,尤其涉及一种材料表面发射率测量装置。背景技术、材料表面发射率的数据对工程设计、实验科学具有重要的指导作用。由于材料表面发射率的大小受到材料本身性质、材料温度、材料表面处理方式等多种因素的影响,这导致材料表面发射率大小难以通过计算得出,需要进行实验获得数据。、目前,能量法是测量材料表面发射率的众多方法中的其中一种。能量法测量材料表面发射率的原理是在同一温度下用同一探测器分别测量黑体及样品的辐射功率,两者的比值就是材料的发射率值。该方法具有测试时间短、能够测量样品表面...
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