技术编号:37268071
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及耐久性试验台,具体为便于调节使用的交流阻断耐久性试验台。背景技术、半导体器件电耐久性试验台是电力半导体器件进行可墓性试验的设备,它可以考核半导体器件在规定的高逊条件下长时间承受规定的正向和反向阻断电压的能力,是按照国标gb-和gb-对半导体器件进行周期检验的必备设备,它不仅可以用来考核器件性能的长期稳定性,还可以对器件进行筛选试验,以淘次早期失效产品、国内已有的电耐久性试验台,被试器件多采用集中加热方案。一种是将被试器件压装散热器后,放在一个大的恒温加热烘箱...
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