技术编号:37365193
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本申请涉及人工智能,具体而言,涉及一种芯片表面缺陷检测方法及设备。背景技术、微电子芯片是许多电子设备中的关键组成部分,它们的质量直接影响到设备的性能。因此,检测微电子芯片的表面缺陷以保证其质量非常重要。然而,传统的手动或半自动化检测方法通常耗时较长,效率低下,并且可能受到人为因素的影响,导致检测结果的不准确。、近年来,深度学习作为一种强大的机器学习技术,在图像识别和处理等领域取得了显著的成功。因此,人们开始尝试利用深度学习模型来进行微电子芯片的表面缺陷检测。然而,如何设计一个有效的深度学习模...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。