技术编号:37428533
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及绝缘性检测装置,特别是涉及一种用于超导馈线的帕邢测试装置及方法。背景技术、目前,超导馈线的工作环境为高真空,所以在超导馈线的制造生产过程中,需进行低气压环境的耐高电压测试,判断超导馈线的绝缘层是否存在缺陷,具体的判断依据为帕邢曲线,即如绝缘层有缺陷,在-pa气压环境中加持极低电压就会发生放电现象。、而现有超导馈线的部分位置为不规则形状,传统的帕邢测试装置,即采用壳式真空腔体进行测试的装置,不能够根据超导馈线的形状进行调整,因此不能够直观的观察到超导馈线不规则位置的放电情...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。