技术编号:37439908
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于数字图像成像领域中的图像去噪,具体涉及一种基于多尺度分段线性的红外焦平面阵列非均匀校正方法。背景技术、红外焦平面阵列的成像技术在红外成像中应用广泛,其在军事、安防、热成像领域中能够快速的获取图像数据并显示出图像。红外焦平面阵列探测器对红外辐射较敏感,在低照度的条件下仍能获取清晰的红外图像,环境适应性较强,且可以通过对不同波段的选择,实现多波段的红外成像。但红外焦平面阵列在高温环境下容易产生热响应非线性的问题,导致成像的质量下降严重。因此需要对焦平面成像装置产生的条纹非均匀性,而考虑到...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。