技术编号:3745119
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种利用半导体纳米材料硫化锌作为荧光探针测定奈韦拉平的方法, 属光分析检测。背景技术纳米材料作为纳米技术的重要研究对象,是现代科学研究中的一个重要方向。量子限域效应使得纳米材料与宏观体相材料相比具有许多奇异的性能,如表面效应、量子尺寸效应和宏观隧道效应等。受这些效应的影响,纳米粒子表现出了有别于大块物质的特异的光、电、磁、热、力学、机械等性能,利用其特殊的发光性能,人们可以把它作为纳米荧光探针,应用到各个领域中去。与传统的有机荧光染料相比,纳米荧...
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