技术编号:37467167
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及温度实验箱领域,特别涉及一种多温度试验箱及其控制方法。背景技术、温度试验箱是电子电器产品整机、零部件以及新材料等进行高温、低温、高低温恒定或交变试验必备的环境试验设备,用于测试在恒定或变化的温度或温湿度条件下,电子电器产品、零部件以及新材料的环境适应性、可靠性、安全性,广泛应用于航空航天、国防军工、电子电器等领域新产品、新材料、新工艺等环境适应性试验、可靠性和安全性试验。、现有的温度试验箱在对物体完成加热实验之后,会直接打开箱门拿取物品或先利用抽风机将热量抽出直接排放,加热完成之后...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。