技术编号：37544371
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于芯片故障诊断，具体涉及一种混合搜索算法优化bp神经网络的多芯片故障诊断方法。背景技术、近年来，随着电子系统的复杂性、综合性和智能性程度不断提高，芯片尺寸不断缩小，管脚数目逐渐增多，对芯片的生产质量和生产效率提出了更高的要求。芯片生产制造过程中技术复杂，材料、环境、工艺参数等因素的微变常导致芯片产生内部电性故障，影响产品良率。芯片内部故障检测作为芯片生产线中的关键环节，可以积极地反馈产品质量信息，避免瑕疵产品流入市场，提高设备可靠性和稳定性。传统的人工观察芯片电流、电压等信号的检测方法...
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