技术编号:37553832
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于电子电路,具体涉及一种电流镜像电路。背景技术、在芯片设计,尤其是高压电路中,闩锁效应(lu,latch up)的发生容易开启异常的大电流,从而引起烧片等较为严重的后果。在闩锁效应测试及芯片实际使用过程中,芯片i/o口抽拉或灌入电流也会通过寄生结构影响到内部电路,版图上距离越近越容易产生较大电流。如图所示的电流镜像电路,第一晶体管m的漏端产生异常电流ilu,电流镜像电路将该支路的异常电流ilu镜像放大,则放大后的路径上将看到成倍大的电流,超过了通路上的元器件和金属线的电磁兼容能力上...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。