用于铜的化学机械抛光(cmp)浆液以及用于集成电路制造的方法技术资料下载

技术编号:3764130

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本发明一般涉及半导体的制造,更具体地说,涉及一种用于抛光在集成电路(ICs)上的铜互连(copper interconnects)的一种浆液组合物,该组合物含有过氧化氢、柠檬酸、柠檬酸铵以及矾土磨料。集成电路(IC)工业现在正在研究和开发可用于集成电路(ICs)中的新的金属互连材料和结构。一种有发展前途的并将在未来用于集成电路(IC)互连的金属材料是铜(Cu)。铜是集成电路工业中所希望的,因为铜具有比现在在集成电路工业中使用的铝和其它金属材料更为改进的电迁...
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